應(yīng)用系統(tǒng)性能測(cè)試六個(gè)步驟

發(fā)布時(shí)間：2021-01-05

1.測(cè)試目標(biāo)
 
性能調(diào)優(yōu)是是無止境的，所以在測(cè)試之前應(yīng)確定一個(gè)明確性能調(diào)優(yōu)目標(biāo)，這也是后面評(píng)估性能測(cè)試驗(yàn)證的一個(gè)基準(zhǔn)，也是測(cè)試終止的一個(gè)基準(zhǔn)。
 
2.需求分析
 
性能調(diào)優(yōu)的測(cè)試分析主要目的是要挖掘出可能造成系統(tǒng)瓶頸的因素，并為后面的測(cè)試用例設(shè)計(jì)提供保證。
 
3.用例設(shè)計(jì)
 
此過程主要目的是設(shè)計(jì)出一些合理的場(chǎng)景去驗(yàn)證在需求分析階段獲得的可能影響性能的因素是否是造成系統(tǒng)瓶頸的因素，測(cè)試用例設(shè)計(jì)一般包括測(cè)試策略、測(cè)試案例、測(cè)試內(nèi)容。
 
4.測(cè)試執(zhí)行
 
測(cè)試執(zhí)行與監(jiān)控的主要目的是根據(jù)設(shè)計(jì)方案去驗(yàn)證系統(tǒng)是否存在瓶頸，給測(cè)試分析提供各種分析數(shù)據(jù)，此過程會(huì)與測(cè)試分析過程不斷進(jìn)行重復(fù)執(zhí)行，直至真正確定出系統(tǒng)瓶頸所在。
 
5.測(cè)試分析
 
測(cè)試分析的主要目的是要根據(jù)測(cè)試執(zhí)行獲取到的數(shù)據(jù)去判斷造成系統(tǒng)出現(xiàn)瓶頸的位置，挖掘造成系統(tǒng)瓶頸的真正原因。
 
6.系統(tǒng)調(diào)優(yōu)
 
將獲取的分析數(shù)據(jù)交付到開發(fā)組進(jìn)行調(diào)優(yōu)，經(jīng)過調(diào)優(yōu)后一般都需要再次進(jìn)行驗(yàn)證，驗(yàn)證主要關(guān)注調(diào)優(yōu)后的結(jié)果是否解決了所發(fā)現(xiàn)的系統(tǒng)性能瓶頸和是否產(chǎn)生了新的性能瓶頸。
 
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