測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)別如何劃分
發(fā)布時(shí)間:2021-09-06
高級(jí):常執(zhí)行以保證功能性是穩(wěn)定的,目標(biāo)的行為和能力可以正常的工作,和重要的錯(cuò)誤和邊界被測(cè)試的測(cè)試用例的集合。
中級(jí):這是使給出的功能區(qū)域或功能變得更詳細(xì),檢查功能的多數(shù)方面包括邊界,錯(cuò)誤和配置測(cè)試的測(cè)試用例。
低級(jí):這是通常很少被執(zhí)行的測(cè)試用例。但這并不意味著這些測(cè)試都不重要,只是說他們?cè)陧?xiàng)目的生命期間里不是常常被運(yùn)行,例如GUI,錯(cuò)誤信息,可用性,壓力測(cè)試和性能測(cè)試。
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