怎樣分配測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)別?
發(fā)布時(shí)間:2021-06-04
1.把需求文檔中描述的功能點(diǎn)和實(shí)現(xiàn)的功能邏輯正確性、流程是否正常使用標(biāo)注為高優(yōu)先級(jí)別。
2.所有功能測(cè)試點(diǎn)拆分之后的錯(cuò)誤、邊界值或因果圖、流程圖中的錯(cuò)誤、異常等情況用例為中優(yōu)先級(jí)別,接口測(cè)試用例設(shè)計(jì)其實(shí)將其進(jìn)行拆分也可以分到高和中級(jí)別。
3.把你所有非功能性的測(cè)試,例如性能和可用性,標(biāo)注為低優(yōu)先級(jí)別。
一般高級(jí)別的測(cè)試用例在整體用例中占30%,中級(jí)別的測(cè)試用例占60%左右,低級(jí)別的用例占5%-10%左右。
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