二 測(cè)試執(zhí)行

工作效率相關(guān)指標(biāo)

執(zhí)行效率 利用測(cè)試用例文檔頁(yè)數(shù)除于此次系統(tǒng)測(cè)試執(zhí)行的時(shí)間總和（不包含用例文檔編寫時(shí)間）。補(bǔ)充指標(biāo)方法是用例的個(gè)數(shù)除于此次系統(tǒng)測(cè)試的時(shí)間總和。用于獲得工作中測(cè)試人員每小時(shí)執(zhí)行測(cè)試的速度。

公式：∑測(cè)試用例文檔頁(yè)數(shù)（頁(yè)） / ∑執(zhí)行系統(tǒng)測(cè)試的有效時(shí)間（小時(shí)）

∑測(cè)試用例數(shù)（個(gè)） / ∑執(zhí)行系統(tǒng)測(cè)試的有效時(shí)間（小時(shí)）

參考指標(biāo)：平均 0.53 頁(yè) / 小時(shí)， 1.95 個(gè)用例 / 小時(shí)。即測(cè)試人員每小時(shí)執(zhí)行半頁(yè)測(cè)試用例或者每小時(shí)執(zhí)行 2 個(gè)測(cè)試用例。通過(guò)橫向比較，容易知道那位成員的執(zhí)行效率較高。注意：執(zhí)行效率高的不代表測(cè)試質(zhì)量也高，甚至執(zhí)行效率和測(cè)試質(zhì)量成反比，所以后面工作質(zhì)量的指標(biāo)會(huì)補(bǔ)充這一部分的偏離。實(shí)際結(jié)果表明，用例執(zhí)行效率高的成員，其缺陷發(fā)現(xiàn)率往往偏低，考核如果不將此納入進(jìn)來(lái)也可以將其作為測(cè)試改進(jìn)的一項(xiàng)重要數(shù)據(jù)進(jìn)行收集。

進(jìn)度偏離度 檢查計(jì)劃時(shí)間和實(shí)際時(shí)間的進(jìn)度，方法是計(jì)劃時(shí)間差額減去實(shí)際時(shí)間差額除于實(shí)際工時(shí)總和，用于考察測(cè)試人員進(jìn)度情況，監(jiān)控測(cè)試是否按照日程進(jìn)行，是否滿足了工程的進(jìn)度要求。

公式：∑（計(jì)劃開(kāi)始時(shí)間 - 實(shí)際開(kāi)始時(shí)間）＋∑（計(jì)劃結(jié)束時(shí)間 - 實(shí)際結(jié)束時(shí)間） / 總工時(shí)

參考指標(biāo)： 15 ％ 進(jìn)度偏離是個(gè)相對(duì)的指標(biāo)，可能偏離了 20 個(gè)工作日，但是對(duì)于一個(gè)長(zhǎng)達(dá)半年時(shí)間的測(cè)試而言偏離天數(shù)比上整體測(cè)試所需天數(shù)不足 15 ％，可能偏離了 3 個(gè)工作日，但是對(duì)于一個(gè)只有 1 星期時(shí)間的測(cè)試已經(jīng)超過(guò)了整個(gè)測(cè)試階段所需天數(shù)的 60 ％。

注意：計(jì)算時(shí)分子分母要保持一致，即開(kāi)始或結(jié)束時(shí)間已經(jīng)去除了非工作日時(shí)間，則總工時(shí)也要去除非工作日時(shí)間。因?yàn)橹贫ㄓ?jì)劃時(shí)是根據(jù)每個(gè)公司的工作日來(lái)制定的，也是說(shuō)，考慮了非正常工作日的日程。

測(cè)試進(jìn)度也是考核很重要的一步，如果沒(méi)有進(jìn)度保證，所有的測(cè)試都存在風(fēng)險(xiǎn)，第一種方法是測(cè)試人員可以采用自下而上的方式向測(cè)試經(jīng)理報(bào)告計(jì)劃用時(shí)，這種方式風(fēng)險(xiǎn)比較少，個(gè)人根據(jù)自己能力大小確定，但是缺點(diǎn)是存在測(cè)試人員虛報(bào)可能性。另一種方法是測(cè)試經(jīng)理進(jìn)行估算后分配工作日程，這時(shí)估算是很重要的前提，除了依賴于測(cè)試經(jīng)理的經(jīng)驗(yàn)外，對(duì)評(píng)估結(jié)果進(jìn)行同行評(píng)審是很客觀可取的方法。

缺陷發(fā)現(xiàn)率 測(cè)試人員各自發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)總和除于各自所花費(fèi)的測(cè)試時(shí)間總和。由于執(zhí)行效率不能足夠代表測(cè)試人員是否認(rèn)真工作，那么，每小時(shí)發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)是重要的考核指標(biāo)，你的工作可以通過(guò)這項(xiàng)指標(biāo)得到反饋。

公式：∑缺陷數(shù)（系統(tǒng)測(cè)試）（個(gè)） / ∑執(zhí)行系統(tǒng)測(cè)試的有效時(shí)間（小時(shí)）

參考指標(biāo)：平均 1.1 個(gè)缺陷 / 小時(shí) 假使有位測(cè)試人員沒(méi)有達(dá)到 1 小時(shí)發(fā)現(xiàn) 1 個(gè)缺陷，那么，除非產(chǎn)品質(zhì)量高、模塊較小，否則，是他的缺陷發(fā)現(xiàn)能力不如其他測(cè)試人員。當(dāng)然，詳細(xì)分類中可以根據(jù)發(fā)現(xiàn)重要缺陷的多少來(lái)定義缺陷發(fā)現(xiàn)能力。

工作質(zhì)量相關(guān)指標(biāo)

有效缺陷數(shù) / 率 被拒絕和刪除的缺陷數(shù)總和，或者被拒絕和刪除的缺陷數(shù)總和除于缺陷總數(shù)。這項(xiàng)指標(biāo)用于考察測(cè)試人員發(fā)現(xiàn)的、被確認(rèn)為缺陷的缺陷數(shù)高低或者百分比，數(shù)和比率越低測(cè)試質(zhì)量越高。

公式：∑缺陷數(shù)（系統(tǒng)測(cè)試中被拒絕和刪除的）（個(gè)）

∑缺陷數(shù)（系統(tǒng)測(cè)試中被拒絕和刪除的）（個(gè)） / ∑缺陷數(shù)（系統(tǒng)測(cè)試）（個(gè)）

參考指標(biāo)：平均 21.9 ％（測(cè)試人員發(fā)現(xiàn)的每 100 個(gè)缺陷中平均有 22 個(gè)缺陷不被開(kāi)發(fā)組確認(rèn)、認(rèn)為不是“缺陷”或者錯(cuò)誤錄入缺陷）。有效缺陷比率容易給出，但是有效缺陷數(shù)具體數(shù)據(jù)要根據(jù)項(xiàng)目情況，無(wú)法給出可參考的數(shù)值。

注意：這項(xiàng)指標(biāo)可能有不正確的情況，假使缺陷被拒絕和被刪除的原因不是因?yàn)闇y(cè)試人員誤操作和需求理解等自身錯(cuò)誤引起，而是系統(tǒng)本身不能實(shí)現(xiàn)或者數(shù)據(jù)錯(cuò)誤引起的，那么要考慮剔除這部分。對(duì)于測(cè)試人員發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)框架根本性的、初始化參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤引發(fā)的、錯(cuò)誤數(shù)據(jù)、錯(cuò)誤環(huán)境等而開(kāi)發(fā)人員因無(wú)法修正、可以通過(guò)改變環(huán)境而無(wú)需修改程序、重新導(dǎo)入數(shù)據(jù)、再次發(fā)布從而拒絕或刪除的缺陷，應(yīng)給予此測(cè)試人員獎(jiǎng)勵(lì)。

嚴(yán)重缺陷率 這個(gè)比例用于彌補(bǔ)缺陷發(fā)現(xiàn)率的不足。主要是根據(jù)嚴(yán)重程度分類的缺陷數(shù)比全部缺陷或者有效缺陷數(shù)。一般而言，每個(gè)公司基本把缺陷嚴(yán)重程度分為嚴(yán)重、一般和微小，或者更細(xì)（通常等級(jí)數(shù)為奇數(shù)）。另外，可以對(duì)缺陷嚴(yán)重程度進(jìn)行折算（嚴(yán)重：一般：微小 =1 ： 3 ： 5 ）通過(guò)折算可以得出權(quán)重，然后在計(jì)算測(cè)試人員分值，在此不冗述

公式：∑嚴(yán)重 / 一般 / 微小 / ∑缺陷數(shù)

∑嚴(yán)重 / 一般 / 微小 / ∑有效缺陷數(shù)

參考指標(biāo)：嚴(yán)重 ~10% 一般 ~70% 微小 ~20% 。當(dāng)測(cè)試人員發(fā)現(xiàn)的缺陷中嚴(yán)重錯(cuò)誤比率越高，說(shuō)明測(cè)試質(zhì)量相對(duì)好，通常嚴(yán)重程度缺陷數(shù)的分布呈正態(tài)分布。

模塊缺陷率 這個(gè)指標(biāo)主要是根據(jù)一個(gè)單獨(dú)測(cè)試模塊的缺陷數(shù)除于模塊本身功能點(diǎn)數(shù)得出來(lái)的。假使一個(gè)模塊是單獨(dú)測(cè)試的話，很容易可以和其他模塊進(jìn)行指標(biāo)橫向?qū)Ρ龋瑓⒄諏?duì)應(yīng)的測(cè)試人員，得出所測(cè)試模塊的缺陷數(shù)，可以考察測(cè)試人員測(cè)試水平，也為開(kāi)發(fā)考核提供數(shù)據(jù)。

公式：∑缺陷數(shù)（系統(tǒng)測(cè)試（個(gè)） / 功能點(diǎn)（個(gè)）

∑缺陷數(shù)（系統(tǒng)測(cè)試（個(gè)） / 子功能點(diǎn)（個(gè)）

參考指標(biāo) 平均 3.74 個(gè)缺陷 / 功能點(diǎn) 1 個(gè)缺陷 / 子功能點(diǎn)

注意：有些功能點(diǎn)沒(méi)有子功能點(diǎn)，計(jì)算子功能點(diǎn)時(shí)要進(jìn)行說(shuō)明。