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卷名:2013年計(jì)算機(jī)等級(jí)考試四級(jí)軟件測(cè)試工程師模擬試題(四)    共25題    每題4分    滿(mǎn)分100

第1題:下列關(guān)于缺陷產(chǎn)生原因的敘述中,不屬于技術(shù)問(wèn)題的是________。
(A)文檔錯(cuò)誤,內(nèi)容不正確或拼寫(xiě)錯(cuò)誤
(B)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)不合理
(C)語(yǔ)法錯(cuò)誤
(D)接口傳遞不匹配,導(dǎo)致模塊集成出現(xiàn)問(wèn)題
您的答案: A    B    C    D   
第2題:Myers在1979年提出了一個(gè)重要觀點(diǎn),即軟件測(cè)試的目的是為了________。
(A)證明程序正確
(B)查找程序錯(cuò)誤
(C)改正程序錯(cuò)誤
(D)驗(yàn)證程序無(wú)錯(cuò)誤
您的答案: A    B    C    D   
第3題:不需要運(yùn)行程序,通過(guò)收集有關(guān)代碼的結(jié)構(gòu)信息來(lái)對(duì)程序進(jìn)行的測(cè)試的是________。
(A)性能測(cè)試
(B)黑盒測(cè)試
(C)白盒測(cè)試
(D)靜態(tài)分析
您的答案: A    B    C    D   
第4題:在軟件生存周期中占據(jù)時(shí)間長(zhǎng)的是________。
(A)運(yùn)行和維護(hù)階段
(B)軟件開(kāi)發(fā)階段
(C)需求分析階段
(D)軟件設(shè)計(jì)階段
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第5題:使用白盒測(cè)試方法時(shí),確定測(cè)試數(shù)據(jù)應(yīng)根據(jù)________和指定的覆蓋標(biāo)準(zhǔn)。
(A)程序的復(fù)雜結(jié)構(gòu)
(B)程序的內(nèi)部邏輯
(C)使用說(shuō)明書(shū)
(D)程序的功能
您的答案: A    B    C    D   
第6題:為提供集成測(cè)試的效果,軟件的集成工作由________來(lái)承擔(dān)。
(A)該軟件的設(shè)計(jì)人員
(B)該軟件的編程人員
(C)該軟件開(kāi)發(fā)組的負(fù)責(zé)人
(D)不屬于該軟件開(kāi)發(fā)組的軟件設(shè)計(jì)人員
您的答案: A    B    C    D   
第7題:下列幾種邏輯覆蓋標(biāo)準(zhǔn)中,查錯(cuò)能力強(qiáng)的是________
(A)語(yǔ)句覆蓋
(B)條件覆蓋
(C)判定覆蓋
(D)條件組合覆蓋
您的答案: A    B    C    D   
第8題:下列關(guān)于測(cè)試策略,說(shuō)法錯(cuò)誤的是________。
(A)自底向上測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)是隨著上移,驅(qū)動(dòng)模塊逐步減少,測(cè)試開(kāi)銷(xiāo)小一些
(B)自頂向下測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)是較早的發(fā)現(xiàn)高層模塊接口、控制等方面的問(wèn)題
(C)自底向上測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)是比較容易設(shè)計(jì)測(cè)試用例
(D)自頂向下測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)是使得低層模塊的錯(cuò)誤較早發(fā)現(xiàn)
您的答案: A    B    C    D   
第9題:通常測(cè)試人員判定一個(gè)運(yùn)行結(jié)果中存在缺陷的準(zhǔn)則是________。
(A)開(kāi)發(fā)人員承認(rèn)這個(gè)運(yùn)行結(jié)果中存在缺陷
(B)測(cè)試人員可以從中找出缺陷的證據(jù)
(C)這個(gè)運(yùn)行結(jié)果與測(cè)試案例中的預(yù)期結(jié)果不一致
(D)這個(gè)運(yùn)行結(jié)果與測(cè)試人員預(yù)期的不一致
您的答案: A    B    C    D   
第10題:等價(jià)類(lèi)劃分和邊界值分析是常用的兩種黑盒測(cè)試方法,采用這兩種方法,可以大幅度減少測(cè)試用例的數(shù)量,那么,它們的局限性是________。
(A)在設(shè)計(jì)測(cè)試用例時(shí)不能將這兩種方法結(jié)合在一起同時(shí)使用
(B)不同輸入變量之間可能存在約束關(guān)系,它們不能處理這類(lèi)約束關(guān)系
(C)不能用于大型信息系統(tǒng)的測(cè)試用例的設(shè)計(jì)
(D)不能用于單元測(cè)試和集成測(cè)試
您的答案: A    B    C    D   
第11題:下列關(guān)于測(cè)試方法,說(shuō)法正確的是________。
(A)白盒測(cè)試不同于黑盒測(cè)試之處是它可以減少測(cè)試用例數(shù)量
(B)覆蓋所有獨(dú)立路徑能夠覆蓋所有分支
(C)在單元測(cè)試中不使用黑盒測(cè)試技術(shù)
(D)滿(mǎn)足分支覆蓋滿(mǎn)足條件覆蓋和語(yǔ)句覆蓋
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第12題:傳統(tǒng)的集成測(cè)試策略一般分為兩種:一是非漸增式集成策略,二是漸增式集成策略。二者的區(qū)別是________。
(A)在集成測(cè)試中發(fā)現(xiàn)問(wèn)題時(shí),前者比后者更容易進(jìn)行問(wèn)題定位
(B)后者比前者更適合大規(guī)模應(yīng)用系統(tǒng)的集成測(cè)試
(C)前者需要開(kāi)發(fā)驅(qū)動(dòng)模塊和樁模塊,而后者不需要
(D)前者不需要所有模塊緒,而后者需要
您的答案: A    B    C    D   
第13題:軟件測(cè)試自動(dòng)化是指利用好的測(cè)試工具以自動(dòng)運(yùn)行測(cè)試用例。軟件測(cè)試自動(dòng)化的好處在于________。
(A)比手工測(cè)試發(fā)現(xiàn)更多的軟件缺陷
(B)可以自動(dòng)產(chǎn)生測(cè)試計(jì)劃
(C)使輸入值組合的覆蓋率達(dá)到100%
(D)可以在較少的時(shí)間內(nèi)運(yùn)行更多的測(cè)試用例
您的答案: A    B    C    D   
第14題:下列選項(xiàng)中,評(píng)審方法是按照正式化程度逐漸增強(qiáng)排列的是________。
(A)臨時(shí)評(píng)審、輪查、結(jié)對(duì)評(píng)審、走查、正式審查
(B)臨時(shí)評(píng)審、走查、結(jié)對(duì)評(píng)審、輪查、正式評(píng)審
(C)臨時(shí)評(píng)審、走查、小組評(píng)審、結(jié)對(duì)評(píng)審、正式評(píng)審
(D)正式評(píng)審、小組評(píng)審、走查、結(jié)對(duì)評(píng)審、臨時(shí)評(píng)審
您的答案: A    B    C    D   
第15題:下列關(guān)于軟件性能測(cè)試的說(shuō)法中,正確的是________。
(A)性能測(cè)試的目的不是為了發(fā)現(xiàn)軟件缺陷
(B)壓力測(cè)試與負(fù)載測(cè)試的目的都是為了探測(cè)軟件在滿(mǎn)足預(yù)定性能需求的情況下所能負(fù)擔(dān)的壓力
(C)性能測(cè)試通常要對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析才能獲得測(cè)試結(jié)論
(D)在性能下降曲線上,建議用戶(hù)數(shù)通常處于性能輕微下降區(qū)與性能急劇下降區(qū)的交界處
您的答案: A    B    C    D   
第16題:軟件可靠性分析方法通常不依賴(lài)于概率統(tǒng)計(jì)的方法,下面屬于軟件可靠性分析方法的是________。
(A)失效模式影響分析法(FMEA法)
(B)故障樹(shù)和事件樹(shù)分析法
(C)潛在線路分析法
(D)以上全部
您的答案: A    B    C    D   
第17題:下列關(guān)于面向?qū)ο蠹蓽y(cè)試的說(shuō)法中,正確的是________。
(A)大突擊集成是面向?qū)ο蠹蓽y(cè)試常用且有效的方法
(B)自底向上集成和自頂向下集成都需要為集成測(cè)試開(kāi)發(fā)大量代碼
(C)與自底向上集成和自頂向下集成相比,基干集成是一種更充分的集成測(cè)試策略
(D)高頻集成是以自底向上集成為基礎(chǔ),利用冒煙測(cè)試進(jìn)行的集成測(cè)試
您的答案: A    B    C    D   
第18題:對(duì)采用迭代或增量開(kāi)發(fā)過(guò)程模型開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品進(jìn)行集成測(cè)試時(shí)適合采用的集成策略是________。
(A)傳統(tǒng)的集成測(cè)試策略
(B)基于使用的集成測(cè)試策略
(C)基干集成測(cè)試策略
(D)高頻集成測(cè)試策略
您的答案: A    B    C    D   
第19題:對(duì)于Web應(yīng)用軟件系統(tǒng)測(cè)試技術(shù),下列不屬于功能測(cè)試的是________。
(A)表單測(cè)試
(B)并發(fā)測(cè)試
(C)鏈接測(cè)試
(D)Cookie測(cè)試
您的答案: A    B    C    D   
第20題:關(guān)于易用性測(cè)試,說(shuō)法錯(cuò)誤的是________。
(A)用戶(hù)界面測(cè)試是軟件易用性測(cè)試重要的一項(xiàng)內(nèi)容
(B)對(duì)軟件功能的動(dòng)態(tài)關(guān)聯(lián)進(jìn)行測(cè)試可以通過(guò)檢查菜單完成
(C)使用軟件的目的是減少重復(fù)輸入,減輕人工勞動(dòng),提高工作效率
(D)檢查和評(píng)估軟件安裝手冊(cè)的正確性和易用性是安裝性測(cè)試的重要內(nèi)容
您的答案: A    B    C    D   
第21題:關(guān)于內(nèi)置式合約測(cè)試(BICT),下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是________。
(A)加了測(cè)試器構(gòu)件和測(cè)試處理器構(gòu)件,使被測(cè)構(gòu)件具有自測(cè)試能力
(B)該測(cè)試方法可用于動(dòng)態(tài)、分布式系統(tǒng)
(C)該測(cè)試方法的提出擴(kuò)展了基于構(gòu)件的軟件工程實(shí)踐
(D)提出的模型驅(qū)動(dòng)方法效率很高
您的答案: A    B    C    D   
第22題:下列測(cè)試類(lèi)型中,不是針對(duì)軟件產(chǎn)品的質(zhì)量特性的是________。
(A)性能測(cè)試
(B)安全性測(cè)試
(C)易用性測(cè)試
(D)回歸測(cè)試
您的答案: A    B    C    D   
第23題:下面有關(guān)測(cè)試設(shè)計(jì)的敘述,說(shuō)法不正確的是________。
(A)測(cè)試用例的設(shè)計(jì)是一項(xiàng)技術(shù)性強(qiáng)、智力密集型的活動(dòng)
(B)在測(cè)試用例設(shè)計(jì)時(shí),只設(shè)計(jì)覆蓋正常流程和操作的測(cè)試用例即可
(C)在開(kāi)展測(cè)試用例設(shè)計(jì)前,必須將測(cè)試需求進(jìn)行詳細(xì)展開(kāi)
(D)在一般的測(cè)試組織內(nèi),測(cè)試用例的評(píng)審可能不是正式的評(píng)審會(huì)
您的答案: A    B    C    D   
第24題:測(cè)試項(xiàng)目實(shí)踐中,測(cè)試策劃活動(dòng)的目標(biāo)是________。
(A)確定測(cè)試范圍
(B)劃分測(cè)試任務(wù)
(C)編寫(xiě)測(cè)試計(jì)劃文檔
(D)組織測(cè)試團(tuán)隊(duì)
您的答案: A    B    C    D   
第25題:下列屬于QESAT/C的優(yōu)點(diǎn)是________。
(A)及早地發(fā)現(xiàn)程序中隱藏地錯(cuò)誤
(B)快捷有效地理解程序結(jié)構(gòu)
(C)幫助分析和測(cè)試程序
(D)以上全部
您的答案: A    B    C    D   

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